Término solicitado: MORIMOTO, N.I.^RED./(22)
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| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Proceedings |
| Autor: | Martino, J.A.. ed.; Pavanello, M.A.. ed.; Morimoto, N.I.. ed. |
| Reunión: | The Electrochemical Society. ECS. New Jersey. US , SBMICRO 2003, International Symposium on Microelectronics Technology and Devices, 18, São Paulo. BR, 2003 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New Jersey. US. ECS. 2003. |
| Pág./Vol.: | 462. |
| Descriptores: | Microelectrónica; Silicio; Aislación; Transistores; Capacitancia; Voltaje; Bajas temperaturas; Aluminio; Tungsteno; Simulación; Layout; Sensores; Actuadores |
| Ubicación: | Electrónica/I-13 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Proceedings |
| Autor: | Martino, J.A.. ed.; Pavanello, M.A.. ed.; Morimoto, N.I.. ed. |
| Reunión: | The Electrochemical Society. ECS. New Jersey. US, SBMICRO 2003, International Symposium on Microelectronics Technology and Devices, 18, São Paulo. BR, 2003 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New Jersey. US. ECS. 2003. |
| Pág./Vol.: | 462. |
| Descriptores: | Microelectrónica; Silicio; Aislación; Transistores; Capacitancia; Voltaje; Bajas temperaturas; Aluminio; Tungsteno; Simulación; Layout; Sensores; Actuadores |
| Ubicación: | Electrónica/I-13 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Fin
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